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Título: Análisis y evaluación de los modelos estadísticos para el diseño de circuitos integrados
Palabras clave: mismatch
diseño analógico
variabilidad
rendimiento
modelos
reducción del canal
Fecha de publicación: 16-Jul-2012
Editorial: Ingeniería, investigación y tecnología
Descripción: Los modelos estadísticos para circuitos integrados (CI) permiten estimar antes de la fabricación el porcentaje de dispositivos aceptables en el lote de fabricación. Actualmente, Pelgrom es el modelo estadístico más aceptado en la industria; sin embargo, se derivó de una tecnología micrométrica, la cual no garantiza confiabilidad en los procesos de fabricación nanométricos. Este trabajo considera tres de los modelos estadísticos más relevantes en la industria y evalúa sus limitaciones y ventajas en el diseño analógico, de manera que el diseñador tenga un mejor criterio en su elección. Además, se muestra cómo pueden utilizarse varios modelos estadísticos para cada una de las fases y propósitos de diseño.
Other Identifiers: http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1405-77432011000400005
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